| 作成年度 | 2000年度 |
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| 論文名 | 光ファイバセンサによる模擬斜面での変状測定 |
| 論文名（和訳） | |
| 論文副題 | |
| 発表会 | 土木学会第55回年次学術講演会 |
| 誌名（No./号数） | |
| 発表年月日 | 2000/09/21 ～ 2000/09/23 |
| 所属研究室／機関名 | 著者名（英名） |
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| 住友電気工業㈱ | 佐藤 浩二（SATOH Kouji） |
| 構造研究室 | 中井 健司（NAKAI Kenji） |
| ㈱構研エンジニアリング | 川瀬 良司（KAWASE Ryouji） |
| 構造研究室 | 池田 憲二（IKEDA Kenji） |
| 構造研究室 | 日下部祐基（KUSAKABE Yuki） |
| 抄録 |
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| 本論文では、人工的に岩石を積んだ模擬斜面をつくり、人為的な変状を起こした状態で岩盤斜面の歪みを計測することにより、光ファイバセンサの岩盤斜面での適用性ならびに、センサとして適用可能な光ファイバの選択、設置方法について検討を行った。[*]その結果、岩盤表面に光ファイバセンサを治具で固定し、治具間の平均歪みを測定することで、岩盤の変状を歪みの増減から推測する方法について可能性が見いだせた。 |
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